Chipsmall X-Ray Inspection for Electronic Components Is Opening Now

X-ışını muayenesi, test nesnesinin iç yapısını elde etmek için X-ışını görüntüleme teknolojisini kullanmak ve daha sonra test nesnesinin dahili bilgilerini test nesnesini bozmadan gözlemlemektir.

Esas olarak bileşenlerin özgünlük yargısı ve başarısızlık analizi için kullanılır.CHIP özgünlük yargısı ve hata analizi ve tespiti için uluslararası olarak tanınan bir yöntemdir.

X-ışını algılama teknolojisi, çip özgünlük tespitinde hızlı hız, tahribatsız ve düşük maliyet avantajlarına sahiptir.

Yonga Arıza Tespiti:

X-ışını resimleri aracılığıyla, çipin iç kusurlarını görsel olarak gözlemleyin, soyulma, patlama, boşluklar vb. Ve çip arızasının yargılanmasına yardımcı olun.

CHIP Otantik Yargı:

Otantiklik, test parçasının X-ışını diyagramındaki çerçeve, tahıl, kurşun tel ve diğer elementlerin standart çip ile karşılaştırılmasıyla değerlendirilebilir;